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第1题
按照JB／T4730.2－2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》的规定，对于一次曝光完成多张胶片
按照JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》的规定，对于一次曝光完成多张胶片照相的情况，每张底片上都应有像质计影像。()
第4题
在射线探伤中，影响缺陷检测的因素很多，除了X射线胶片和增感屏的特性、散射线对射线照相的影响外，还有几何不清晰度、固有不清晰度、()、射线的入射方向及透照厚度差等。
在射线探伤中，影响缺陷检测的因素很多，除了X射线胶片和增感屏的特性、散射线对射线照相的影响外，还有几何不清晰度、固有不清晰度、（)、射线的入射方向及透照厚度差等。
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第11题
JB／T4730.2－2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》规定，射线检测的底片评定一般应在专用的
JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》规定，射线检测的底片评定一般应在专用的评片室内进行。()
