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[判断题]

双晶探头一般用于探测薄壁工件或近表面缺陷。()

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第1题
双晶探头主要用于近表面缺陷和薄件的检测。()
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第2题
与直探头相比,双晶探头 正确的是()

A.盲区小

B.灵敏度高

C.近场长度小

D.有利于检测近表面缺陷

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第3题
检验近表面缺陷最有效的方法是()

A.联合双晶探头

B.直探头

C.斜探头

D.可变角探头

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第4题
磁粉检测只能用于检测工件表面和近表面缺陷,不能检出埋藏较深的内部缺陷。()
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第5题
用入射角36.5°的斜探头一次波探测钢工件时,测得某缺陷的声程为141mm,缺陷距探测面的深度为()。(有机玻璃C1=2730m/s,钢CS=3200m/s)。

A.101mm   

B.104mm   

C.108mm   

D.110mm   

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第6题
在探测厚度较大的工件时,选用较小K值的探头是为了减少声程过大而引起的衰减,便于发现远场区的缺陷。()
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第7题
一工件厚度为350mm,用2MHz直探头发现在距探测面200mm处有一缺陷回波,比底波低24DB,此缺陷相当于()当量直径的平底孔(钢C1=5900m/s)。

A.7mm   

B.6mm   

C.5mm   

D.3.7mm   

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第8题
用入射角30°的斜探头,一次波探测钢工件时,测得某缺陷声程为141mm,该缺陷距入射点的水平距离为()(有机玻璃C1=2730m/s,钢CS=3200m/s)。

A.95.7mm   

B.90.7mm   

C.85.7mm   

D.82.7mm   

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第9题
直探头主要用于探测与探测面平行的缺陷。()
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第10题
焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()

A.平行于探测面的缺陷

B.与探测面倾斜的缺陷

C.垂直于探测面的缺陷

D.不能用斜探头检测的缺陷

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第11题
横波探头是通过波型转换来实现横波探伤的,主要用于探测与探侧面()的缺陷。
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