首页 > 学历类考试 题目内容 (请给出正确答案) [判断题] 纵波直射法探测平板形试件时,如果仪器工作条件和耦合状态良好,试件材质衰减很小,但探伤图形中既无缺陷波又无底波,这是由于试件中存在与探测面倾斜的大缺陷。() 查看答案 答案 收藏 如果结果不匹配,请 联系老师 获取答案 您可能会需要: 您的账号:,可能还需要: 您的账号: 发送账号密码至手机 发送 重置密码 查看订单 联系客服 安装优题宝APP,拍照搜题省时又省心! 重要提示:请勿将账号共享给其他人使用,违者账号将被封禁。