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[多选题]

缺陷长度测量:当缺陷面积()声束截面时,如果()移到缺陷边缘,缺陷波高将约为声束轴线在缺陷中部时波高的一半。

A.大于

B.小于

C.声束轴线

D.探头中线

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第1题
对于面积大于声束截面或长度()声束截面直径的缺陷可用缺陷延伸度定量评定法确定缺陷的边界。

A.小于

B.等于

C.大于

D.大于等于

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第2题
当试件上下面与入射声束垂直且缺陷反射面小于入射声束截面时,可用地面回波高度法。()
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第3题
测长法通常用于测定小于声束截面缺陷的指示长度。()
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第4题
面积大于声束截面的缺陷大小一般用()评定。

A.回波高度法

B.F/B法

C.当量法

D.延伸长度法

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第5题
面积小于声束截面的缺陷大小一般用()评定。

A.回波高度法

B.F/B法

C.当量法

D.延伸长度法

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第6题
当缺陷与声束垂直时,反射波干脆、波峰尖锐、猛烈。()
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第7题
当量法只适用于测量限度远小于声束截面的缺陷。()
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第8题
双晶探头具有什么优点()。

A.杂波少、盲区小

B.易于探测垂直平行声束缺陷

C.近场长度小

D.有利于检测近表面缺陷

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第9题
频率高时,波长短、声束窄、扩张角小、能量集中,因而发现小缺陷能力强,分辨力好,缺陷定位准确。()
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第10题
超声波频率高时()。

A.声束宽

B.分辨力好

C.缺陷定位准确

D.扫查空间大

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第11题
频率高时,波长短、声束宽、扩张角小、能量集中,因而发现小缺陷能力强,分辨力好,缺陷定位准确。()
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