题目内容（请给出正确答案）

[单选题]

纵波直射法探测平板形试件时，如果仪器工作条件和耦合状态良好，试件材质衰减很小，但探伤图形中既无缺陷波，又无底波，这是由于试件中存在（）

A.与探测面平行的大缺陷

B.与探测面垂直的大缺陷

C.与探测面倾斜的大缺陷

D.请输入内容

答案

C、与探测面倾斜的大缺陷

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第1题

纵波直射法探测平板形试件时，如果仪器工作条件和耦合状态良好，试件材质衰减很小，但探伤图形中既无缺陷波又无底波，这是由于试件中存在与探测面倾斜的大缺陷。()

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第2题

试件内部的、光滑的、片状的与探测面垂直的缺陷，能有效发现缺陷的探伤方法是()。

A.串列式探伤

B.斜探头探伤

C.双晶片直射法

D.表面探伤

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第3题

直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件，若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB，两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm，当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时，后者的底面回波应为示波屏满幅的()

A.5%

B.10%

C.20%

D.40%

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第4题

电阻大时阻尼小，发射强度小，仪器分辨率低，适宜于探测厚度大，对分辨力要求不高的试件。()

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第5题

轴类锻件，般来说以纵波直探头作径向探测效果最佳（）

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第6题

直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面、主要用于探测与探测面______的缺陷。

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第7题

晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面进入被探材料的检验方法称为（）。

A.直射法

B.斜射法

C.表面波法

D.上述三种都不正确

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第8题

由发射探头发射的超声波，通过试件传递后再由另一接收探头接收的查验方式称为：（）。

A.表面波法

B.斜射法

C.穿透法

D.直射法

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第9题

纵波直探头的近场长度不取决于下述何种因素（)

A.换能器的直径

B.换能器的频率

C.声波在试件中的传播速度

D.耦合剂的声阻抗

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第10题

直探头分辨力测试时，调节仪器，探测声程分别为（）mm和（）mm反射面的反射波。

A.85

B.86

C.91

D.92

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第11题

如果透声斜楔采用有机玻璃制作（纵波声速2.73×103m/s）被检试件为钢（纵波声速5.9×103m/s，横波声速3.23×103m/s）则第二临界角为（）。

A.25.7

B.27.6

C.56.7

D.57.7

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